PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類
更新時(shí)間：2018-02-03 
瀏覽次數(shù)：1327①直流面耐壓試驗(yàn)不能反映設(shè)備實(shí)際工況下的電場分布，難以正確發(fā)現(xiàn)電容器的內(nèi)部缺陷。直流電壓下電力電容器元件上的電壓按電阻分布；而在交流電壓下則是按介電常數(shù)分布的，它反映運(yùn)行的實(shí)際情況。全膜或紙膜電容器的固體介質(zhì)電阻率可高達(dá)1～100 EΩm，當(dāng)某電容元件的絕緣薄膜絕緣不良時(shí)，其電阻率可大幅度下降至原電阻率的幾分之一。直流耐壓時(shí)，電阻率高的良好的電容元件上承受的電壓可較不良電容元件高出幾倍，從而使絕緣不良的電容元件反而容易通過試驗(yàn)，其絕緣缺陷在運(yùn)行電壓下便會(huì)較快地暴露出來，發(fā)展成為故障或?qū)е率鹿省?/span>
②直流電壓可使電容器內(nèi)部的局部放電大為減弱，不利于絕級缺陷的檢出。電容器內(nèi)部的某些絕緣弱點(diǎn)或板邊緣電場集中的部位均可能產(chǎn)生局部放電，持續(xù)的局部放電對電容器絕緣是有害的，因此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定電力電容器在試驗(yàn)電壓下的局部放電量不得超過100 pC［1］。
加壓時(shí)電容器元件中的油隙特別是氣隙［2］中的場強(qiáng)常比固體介質(zhì)的高，但其擊穿場強(qiáng)卻較低，所以往往先發(fā)生局部放電。但是同樣的復(fù)合絕緣，在直流電壓作用下局部放電則會(huì)大大減弱。氣隙發(fā)生局部放電后產(chǎn)生的正、負(fù)離子形成反向電場E′，使氣隙中的合成場強(qiáng)下降，使局部放電削弱甚至熄滅。而交流電壓則不然，只要外加試驗(yàn)電壓高于局放起始電壓，每半周內(nèi)至少會(huì)發(fā)生兩次局部放電。因此交流耐壓檢出絕緣缺陷遠(yuǎn)比直流耐壓敏感。
③工頻交流耐壓試驗(yàn)符合運(yùn)行電壓的實(shí)際波形，與運(yùn)行中出現(xiàn)的工頻暫態(tài)電壓升高的情況較為符合，不存在等價(jià)性問題。
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